普通方块电阻测试仪FT-332
发布时间: 2024-04-29 20:14:52 点击: 3128
FT-332普通方块电阻测试仪
参照标准:
1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).
2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
双电组合测试方法:
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。
规格型 |
FT-332 |
1.方块电阻范围 |
10-4~2×105Ω/□ |
2.电阻率范围 |
10-5~2×106Ω-cm
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测试电流范围
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10μA,100µA,1mA,10mA,100mA |
4.电流精度 |
±0.2%
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5.电阻精度 |
≤0.3% |
6.显示读数 |
液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 |
7.测试方式 |
普通单电测量 |
8.工作电源 |
输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W |
9.误差 |
≤4%(标准样片结果) |
10.选购功能 |
选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻 |
11.测试探头 |
探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针 |